半導體參數分析儀

技術原理：

IV Curve 電性分析，可透過量測電壓電流的方式來確認 IC 相關參數與特性。

如：電壓-電流（I-V）、電容-電壓（C-V）、電阻（R）、電容（C）、電感（L）和訊號波形（Waveform）等。