首頁 > 服務項目 > 失效分析 > 電性分析 > 熱點偵測 InGaAs 微光顯微鏡 (InGaAs) 技術原理: InGaAs 微光顯微鏡其原理是偵測電子-電洞結合與熱載子所激發出的光子,與過往的微光顯微鏡(EMMI)原理相同,世代演進後使用新的偵測器材料:砷化鎵銦,讓可偵測波長範圍和所激發出光子的波長範圍更為相配,且與目前主流的背向(透過Si)偵測方式所處波長範圍更匹配,因此InGaAs微光顯微鏡可大大提高偵測效能。 實驗室聯絡窗口 失效分析 | 黃先生 +886-3-560-1830 #372 fa@cheetah-insp.com